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    CIF-TEM透射電鏡樣品桿清洗機

    CIF 透射電鏡（TEM）樣品桿清洗機采用遠程離子清洗源 設計，清洗快速高效， 低轟擊損傷， 同時(shí)可實(shí)現常規等離子清洗。 主要用于 TEM透射電鏡樣品桿的等離子體清洗和真空檢漏。

    時(shí)間：2024-07-03型號：CIF-TEM訪(fǎng)問(wèn)量：2913
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